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半導(dǎo)體美國博曼(BOWMAN)X射線熒光膜厚測試儀
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產(chǎn)品/服務(wù): 瀏覽次數(shù):166半導(dǎo)體博曼X射線熒光膜厚測試儀 
單 價: 電議/面議 
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更新日期: 2014-08-22  有效期至:長期有效
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博曼X射線測厚儀是利用利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器,這種測量方法可以實現(xiàn)連續(xù)的實時在線測量。作為行業(yè)的技術(shù)代表,實現(xiàn)了對傳統(tǒng)測量儀器的技術(shù)突破它以PLC和工業(yè)計算機為核心,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng),達到要求的軋制厚度,在無標準片的情況下依然能夠精準測量。分析元素范圍鋁13到鈾92。.x射線激發(fā)能量50 W(50 kv1 ma)鎢靶射線管.探測器硅PIN檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率.測量的分析層和元素5(4層鍍層+基材)10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達25種元素。

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