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X射線熒光
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詳細信息 美國博曼膜厚儀 ，集現(xiàn)代化高科技于一體的高精密測試儀器。與傳統(tǒng)技術相比，有更高的技術突破，博曼測厚儀在測試中，無需標準片，為客戶減少不必要的成本，強大的標準數(shù)據(jù)庫，只需調(diào)用數(shù)據(jù)庫標準即可，一機多用 ，多鍍層，多元素分析。此儀器結構緊湊、堅固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。如果您需要一臺性能出色，測量精準的鍍層測厚儀，博曼BA100是您的正確選擇。
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