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X射線熒光光譜分析儀 環(huán)保分析儀 合金元素分析儀器

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圖片 標(biāo) 題 更新時間
韓國X射線熒光光譜儀器
多鍍層,1~4層 測試精度:0.01 um 多次測量重復(fù)性誤差0.1% 元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U) 測量時間:10-60秒 Si-PIN探測器,能量分辨率為14
2014-06-16
供應(yīng)韓國專業(yè)PCB膜厚測試儀器
多鍍層,1~4層 測試精度:0.01 um 多次測量重復(fù)性誤差0.1% 元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U) 測量時間:10-60秒 Si-PIN探測器,能量分辨率為14
2014-06-16
能量色散X熒光光譜分析儀EDX-1000
EDX-1000 采用真空樣品腔; 專業(yè)用于銅、鐵、鋅等合金的全元素分析; 樣品形態(tài)可為固態(tài),液態(tài),粉沫。技術(shù)指標(biāo): 元素分
2014-06-16
X射線熒光光譜分析儀EDX-1200
技術(shù)指標(biāo): 多準(zhǔn)直器自動切換 元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U) 元素含量分析范圍為1PPm到99.99% 測量時間:60-300秒 多次測量重復(fù)性誤差
2014-06-16
金屬成分分析儀器EDX-1050
EDX-1000 采用真空樣品腔; 專業(yè)用于銅、鐵、鋅等合金的全元素分析; 樣品形態(tài)可為固態(tài),液態(tài),粉沫。技術(shù)指標(biāo): 元素分
2014-06-16
環(huán)保分析設(shè)備EDX-800
技術(shù)指標(biāo):采用業(yè)界先進(jìn)的基本參數(shù)法(FP) RoHS/WEEE/ELV無損檢測 精準(zhǔn)的Cr, Pb, Hg, Cd,Br 定量分析及共存元素 定量分析 同時具備
2014-06-16
精確的環(huán)保成分分析儀
技術(shù)指標(biāo):iEDX-100A 軟件對RoHS的分析 具有的效果,中英文界面 RoHS/WEEE/ELV無損檢測 精準(zhǔn)的Cr, Pb, Hg, Cd 定量分析 自動校準(zhǔn)
2014-06-16
具實(shí)力的X射線熒光光譜分析儀
技術(shù)指標(biāo): RoHS/WEEE/ELV無損檢測 精準(zhǔn)的Cr, Pb, Hg, Cd 定量分析 多鍍層,1~6層 測試精度:0.01 um 元素分析范圍從鈉(Al)到鈾(U) 測量
2014-06-16
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