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X射線熒光光譜分析儀EDX-1200
產(chǎn)品屬性
產(chǎn)品優(yōu)勢 能量色散X熒光光譜分析設(shè)備（XRF）
可同時進行RoHS、金屬成分、金屬鍍層厚度分析
善時光譜行業(yè)新突破：檢測元素高達10ppm精度級別
詳細信息 技術(shù)指標(biāo)：
多準(zhǔn)直器自動切換
元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍為1PPm到99.99%
測量時間：60-300秒
多次測量重復(fù)性誤差<0.1％
SDD探測器，能量分辨率為125±5電子伏特
X射線管50KV/1mA，壽命大于3萬小時
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
多變量非線性去卷積曲線擬合
高斯平滑濾波校正
高性能FP/MLSQ分析
樣品室尺寸 190x190x54 mm
儀器尺寸 590x400x350 mm 善時光譜行業(yè)新突破：檢測元素高達10ppm精度級別
圖譜界面：
軟件支持無標(biāo)樣分析，可任意進行定性、定量分析，使用靈活
全元素分析、RoHS和金屬鍍層于一體的測試軟件
同時可以顯示25種元素分析結(jié)果
采用先進的多種光譜擬合分析處理技術(shù)
不銹鋼成分分析
黃銅成分分析
礦石成分分析
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